X射线膜厚测试仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点，在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器等多个行业。
主要特点
样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
可检测元素范围：13 – 92号元素
可同时测定5层/15种元素
精度高、稳定性好
强大的数据统计、处理功能
测量范围宽
NIST认证的标准片
全球服务及支持
技术参数
主要规格  规格描述 
X射线激发系统  垂直上照式X射线光学系统 
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗 
标准靶材：微聚焦型W靶铍窗X射线管功率50W

功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准     

装备有安全防射线光闸 
准直器程控交换系统  最多可同时装配4种规格的准直器 
－样品室结构  开槽式样品室  开闭式样品室 
－样品观察系统  高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。 
激光自动对焦功能 
可变焦距控制功能和固定焦距控制功能 
计算机系统配置  I5计算机 惠普或爱普生彩色喷墨打印机 
分析应用软件  操作系统：Windows7中文平台 分析软件包： FP软件包 
－测厚范围  可测定厚度范围：取决于您的具体应用。 
－基本分析功能  采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。