非接触厚度电阻率测试仪
| 型号： | XH-308B |
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| 品牌： | - |
| 原产地： | 中国 |
| 类别： | 冶金矿产、能源 / 新能源 / 太阳能设备 |
| 标签︰ | - |
| 单价： |
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| 最少订量： | - |
产品描述
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 技术参数 |
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| ■ 硅片规格：
方片125x125mm、156x156mm 圆片3″、4″、5″、6″、8″ ■ 测试功能 厚度：单点及多点厚度 TTV：总厚度偏差 体电阻率：单点及多点体电阻率 ■ 测试指标 厚度范围：150～1000μm 测量误差：≤±1.0μm 重复性：≤±0.20μm TTV范围：0.00μm～200.00μm 测量误差：≤±0.50μm 重复性：≤±0.20μm 体电阻率范围：0.1Ω.cm~30.0Ω.cm 测量误差：≤±3% 重复性：≤1.5% ■ 设备尺寸/重量：470mm(L)x420mm(W)x600mm(H)/20Kg ■ 测试环境要求：温度范围15～27℃ ■ 湿度范围：35%～85% ■ 电源要求：220VAC,50Hz ■ 控制器：高性能主机 |
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会员信息
| 北京羲和阳光科技发展有限公司 | |
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| 国家/地区︰ | 北京市大兴区 |
| 经营性质︰ | 贸易商 |
| 联系电话︰ | 18618315708 |
| 联系人︰ | 包经理 (销售总监) |
| 最后上线︰ | 2014/07/02 |
