波前传感器

产品描述

法国Ph 公司的产品基于其波前测量专利技术，即4 波横向剪切干涉技术。（4-Wave Lateral

Shearing Interferometry）。在增强型改进型哈特曼掩模的基础之上，这种独特技术将超高分辨率和超大

动态范围完美结合在了一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测量。

SID4 HR:高分辨率波前传感器

SID4-高分辨率波前传感器可应用于光学测量领域。其可实现300x400 个测量点的

相位图，保证了高精度测量，可用于对各种光学器件的测量，如透镜，物镜，球

面镜，微透镜特征测量等

波长范围：400-1000nm

高性能的相机，信噪比高

实时测量，立即给出整个物体表面的信息（120000 个测量点）

曝光时间极短保证动态物体测量