WB－200型引伸计标定仪是一种纯机械式的高精度位移测微仪器。依据JJG762－92引伸计检定规程要求，专门用于对各类引伸计的标定，也广泛用于位移传感器的检定及相应百分表、千分表的检定。

 产品简介

WB－200型引伸计标定仪由精密微分测头及测量支架组成。该标定仪是积木式结构设计。将精密微分测头及支臂以多种方式或位置组合，同时配有加长立柱附件，配有圆柱、板、刀片等多种形式的分离试样，可以方便地进行多种规格型号引伸计的计量标定。用户还可以根据自己的测试特殊需要，配置专用配件进行精密微变形量计量。

精密微分测头由滑动量杆、量杆套筒、读数内筒、读数外筒及高精密螺纹付组成。其最大量程25㎜；最小分度（游标分度）0.0002㎜；旋转外筒分度0.002㎜。

位移变化读数为：L=（a+0.001b+0.0001c）-（a0+0.001b0+0.001c0）

其中：a－内筒毫米刻线读数；      b－外筒刻线读数

      c－游标刻线读数；          a0 b0 c0　为相应位移变化前读数

        技术规格

1、测量引伸计标距范围Ｌmax：   500㎜

2、测量支座上支臂安装孔径：    φ10；φ28

3、微分测头读数内筒轴向刻度：  0.5㎜/格

4、微分测头读数内筒游标刻度：  0.0002㎜/格

5、微分测头读数外筒圆周刻度：  0.002㎜/格

6、高精密微分测头精度指标

量程0.5㎜以内≤0.5μm    绝对误差

量程0.5㎜以上≤0.1%     逐点相对误差