功能用途：镀层厚度分析、 物质元素含量分析 以下报价，以卖方最后确认为准。 技术指标型号： TX-200 元素分析范围： 铝（Al）－铀（U）可测镀层数： 最多可达5层镀层种类： 单金属镀层、合金镀层、无机薄膜镀层识别精度： 0.01um 厚度相对误差： 单层5%，多层5～10% 厚度测试范围： 轻金属（如：Ti、Cr等）0.01～50um 中金属（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um 重金属（如：Pt、Au、Pb等）0.005～15um 多道分析器： 2048道外型尺寸： 650mm×550mm×350mm 测量仓： 220mm×200mm×150mm 重量： 60Kg 测试时间： 60～200秒 标准配置配置 数量 单位仪器硬件部分主要配置 1 套 1. Si-PIN半导体探测器（采用美国原装进口） 1 　　套 2. 低功率高效X光管（采用英国原装） 1 　　个 3. 高压电源 1 　　个 4. 2048道数字多道分析器（采用美国原装进口） 1 　　套 5. 高精密CCD 1 　　个 6. 滤光片组 5 　　组 7. 准直器：直径为0.2 , 0.5 , 1 , 2 , 6 , 8mm的准直器各一个 6 　　个仪器外围配置 　　计算机：内存1 GB/硬盘150G/光驱24 X DVD/显示器17’LCD Monitor 1 台 2. 彩色喷墨打印机 1 台 3. 校正片 1 片软件配置 镀层厚度分析软件 1 套元素分析软件 1 套