ba100膜厚测试仪

膜厚测试仪|膜厚仪|无损膜厚测试仪是用于测量金属镀层的厚度,可测量无损测量多至四层合金膜厚,应用于五金、电子、PCB线路板、珠宝首饰、汽车配件等行业的金属厚度测量及成份分析.全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，仪器小巧,是一款桌面式的测量仪器,使仪器操作更人性化、更方便。

美国膜厚测试仪|膜厚仪|无损膜厚测试仪应用方面:
罩性金属镀层厚度测量，  例如Zn；Cr；  Cu；  Ag；  Au；Sn等  合金(两样金属元素)镀层厚度测量，  例如：  SnPb；  ZnNi；  及NiP(无电浸镍)在Fe上等
合金(三檬金属元素)镀层厚度测量，  例如：  AuCuCd在Ni上等
双镀层厚度测量，  例如：Au／Ni在Cu  上；  Cr／Ni在Cu上；Au／Aq在Ni上；Sn／Cu在黄铜上等
双镀层厚度测量(其中一层是合金层)，  例如：  SnPb／Ni或Au／PdNi在青铜上等
三镀层，  例如：  Cr／Ni／Cu在塑胶或在铁上
金属成份分析，  最多可以分析四种金属元素

美国膜厚测试仪|膜厚仪|无损膜厚测试仪样品台选择：
采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：
一：手动样品台
1 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
2 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
3 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。

二：自动样品台
1  程控样品台：XYZ轴自动控制。
2  超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。

膜厚测试仪的详细参数请来电咨询

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