测厚规 TECLOCK日本得乐测厚规SM112
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SM-112技术参数：

用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。

测量范围：0-10mm

最小读数：0.01mm

测量深度：26mm

原理：在一定的面积与一定荷重下，测量出的物件厚度。指针式测厚 规可以作为物品检测时的基础测量。

技术参数：

指式方式：指针式

测量范围：0-10mm

最小读数：0.01mm

测量深度：26mm

体积大小：(W*D*H)87*23*105mm

重量：150g