瑞典XCounter双能光子计数X射线探测器XC-FLITE X系列

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产品描述

XC-FLITE X1、X2、X3是直接数字转换、自扫描、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，XC-FLITE X系列适用于潜在宽泛的能量范围。

 

XC-FLITE X系列可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式，扫描速度最高90mm/s。

 

引进反符合技术的双能采集功能，是XC-FLITE X系列产品的先进之处，在双能采集过程中，通过两个独立的阈值将探测到的光子能量加以比较，并分别读出，双能设置可用作材料分析，这为新的医学和工业X射线成像技术开启了大门。反符合技术的运用，确保将每一个光子信号分布在适当的像素点上，从而获得更高的能量分辨率。

 

XC-FLITE X系列的产品内部具有一个精心设计的扫描驱动元件，可自动控制，整个扫描过程是完全透明可见的。

 

集成

XC-FLITE X系列，通过GigE接口将XC-FLITE X系列连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有XC-FLITE X的功能；可用在Windows XP、Vista、 Windows7和Windows8系统平台

 

应用

*小范围辐照   

*小动物成像

*实验室样品和标本成像    

*工业检测（NDT）

 

特点&优势

*三种尺寸可选

*CdTe-CMOS传感器，高品质成像

*自扫描设计，透明可见

*双能采集，具有材料区分能力

*反符合技术，卓越的能量分辨率

*可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式

*扫描速度最高90mm/s

*兼容Windows操作系统，从XP到Windows8

*配有功能强大的系统软件

 

技术参数

物理参数

尺寸 （L×W×H）：XC-FLITE X1：32.9×22.0×5.5cm

XC-FLITE X2：54.2×40.2×8.7cm

XC-FLITE X3：63.0×57.1×8.5cm

成像面积：X1：15cm×15cm

          X2：30cm×30cm

X3：45cm×45cm

温度控制：Internal Peltier温度控制

环境温度：+10 - +40℃

储藏温度：-10-+60℃ @ 10% - 95% 湿度

射线窗：碳纤维， 厚500μm

射线屏蔽：根据应用

传感器

传感器数量：X1：1   X2：2    X3：3

传感器类型：双能光子计数 CdTe-CMOS

传感器厚度：0.75mm-2.0mm CdTe

有效面积：X1：154.7×12.8mm(1536×128像素)

X2：309.4×12.8mm(3072×128像素)

X3：464.1×12.8mm（4608×128像素）

像素：100μm

像素填充率：100%

性能

最大扫描速度：X1：90 mm/s  

X2 & X3：255 mm/s

帧率：最高1000 fps （也可选择时间延迟总和模式）

动态范围：12 bits

像素合并：1×1，2×2， 4×4

曝光时间：100μs-5s

DQE（0）： 85%@RQA5 spectra

MTF：＞80% @ 2lp/mm  

＞45% @ 5lp/mm

管KV范围：15-250kVp

内部测试模式：伪随机调试模式

外部触发输出：3.3V TTL

输入：5V

滞后：0%

拖影：＜0.1%  X射线开启后1分钟，（12μGy）

 

分辨率和DQE曲线 （反符合开CC on和闭CC off）