银浆湿膜厚度测试仪

银浆湿膜厚度测试仪
型号:HM3-50
品牌:REAL
原产地:德国
类别:电子、电力 / 仪器、仪表 / 机械量仪表
标签︰银浆湿膜测厚仪 , 湿膜测厚仪 , 膜厚测试仪
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产品描述

深圳市和兴盛光电有限公司
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REAL非接触表面轮廓测量仪 HM3-50是一款专门针对需要非接触获取表面高度或轮廓曲线的仪器, 采用创新的光谱共聚焦原理, 通过探头扫描的方式获取轮廓,并通过配套设计的软件进行截面分析和测量,记录测量数据,并带有控制图表和CPK等SPC统计功能,并能导出测量数据为Excel兼容格式。
光谱共聚焦原理:是一束多波长混合光束,聚焦到一个点上,由于各种波长光线折射率不同,聚焦的位置也不同。聚焦在物体反射表面上的波长的光线,经过聚焦后通过一个微孔到达光谱分析仪器,其它波长的光线由于没有聚焦在物体表面,反射的光线只有极少能通过微孔,因此测量光线主波长就可以对应地得到该物体表面的高度。
该测量方法的优点是,对物体表面光学特征不敏感,可以测量各种颜色,各种反射度,各种透射率,包括透明材料和镜面反射材料。而且由于光线从四面八方照射到样品,对表面突变的边缘不易产生影响测量的阴影效应。由于光谱分析仪器的分辨率可以达到纳米级别,且对外界干扰光不敏感,所以测量精度高且稳定性好。
扫描臂和测量平台可分体的模块化设计,使得要测量很大的样品只需把扫描臂固定到更大的平台上,具有更好的灵活性和可扩展性。

扫描臂主体框架采用稳定精密的单块花岗石架构,提高稳定性,减少机架采用不同材料产生的热膨胀变形。设计时充分考虑到发热部件的安装位置和散热,减少发热部件对架构的热变形影响。
扫描轴使用光栅尺闭环位置反馈控制,没有丝杆驱动产生的发热膨胀以及磨损和间隙,运动精度稳定可靠。
亚微米级别的测量对震动非常敏感。测量平台可以配套安装气浮隔振器,利用带阻尼机构的空气悬挂吸收和隔离大部分外界震动,可以减少样品移位和读数跳动,提高精度。平台自带水平仪,方便用户随时监控平台是否放置水平,提高测量可靠性。
采用测量探头运动样品不运动的设计,可以避免样品产生震动和摇晃,并避免了样品运动和空气碰撞产生的气流影响,可以大幅度提高测量精度,对于未固化的浆料、胶水、油墨湿膜以及薄或柔软的、底部不平整度大于测量分辨率的基材来说,这一特点非常重要。


应用范围:漫反射/透明/镜面,固态液态均可(胶水、银浆、油墨等)
可测湿膜厚度:2~350μm
可测最小宽度:10μm
高度测量分辨率: 0.022μm(=22nm=0.000022mm)
重复精度: <0.1um于标准量块上)
XY平台大小:500X760mm(最大可定制)
Z轴可调整范围: 35mm 
允许被测物高度:80mm
最大扫描距离: 50mm
最大扫描速度:27mm/s
扫描轴最小步距:1μm
扫描轴直线度:0.1μm(0.000375%FS,校准后)
最高采样频率: 900样品/S (测量头静态可达2000样品/S)
运动系统:磁悬浮,超精密导轨
控制系统:光栅全闭环控制
基准平面修正:两点参照修正倾斜
数据传输:USB数字、光纤传输
测量模式:手动定位和调焦,自动扫描
测量速度:每次测量约5~10秒(短距离扫描,不包括被测物摆放时间)
测量结果:长、宽、平均厚度、最高厚度、目标边线厚度等,主要数据可导出至Excel
SPC统计功能:平均值、最大值、最小值、极差、标准差、CP/K/CPK等。Xbar-R均值极差控制图(带超标警告区),直方图、规格参数可自主设置。
测量局限性:光照射不到或无法反射足够光线到探头的地方无法测量。
本身发光或荧光物质需确认。(凹球面反射镜和透镜等光学部件或类似的表面 需要确认光路合理性)
必须配置:测量探头;探头控制器;扫描臂;扫描臂控制器;
测量软件 
可选配置:测量平台;阻尼隔振器;平面误差小于0.1um标准表面;
电脑和操作系统 
平台尺寸:600x800(更大可定制)
使用环境要求:远离震动和强光,无尘,恒温建议放在基础层楼层稳固的桌子(20摄氏度 正负1度,至少10万级洁净度,照度低于100LUX,湿度<60%RH且较稳定)
压缩空气/氮气/纯净水:无需 
电源电压: 220V正负10%,交流50Hz

 

银浆湿膜厚度测试仪 1

会员信息

深圳市和兴盛光电有限公司
国家/地区︰广东省深圳市
经营性质︰贸易商
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联系人︰汪龙 (销售工程师)
最后上线︰2015/11/20