HY(IC)IC卡动态弯扭试验机技 术 参 数:  
本仪器针对性IC卡在国标GB/T 16649.1，国标GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998国际标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验; 完全符合以上标准。
外形尺寸：L670 X W380 X H220
仪器重量：70kg
电 压：AC220V±5%
功 率：35W
测试速度：弯曲 扭曲30r/min及0.5Hz
测试周期：1~9999次 
扭曲度 ：±15°±1° 双向d=86 mm
正反向各15°，总扭曲角度30°
长边最大位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)
长边最小位移量为2mm±0.50mm，
短边最大位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)
长边最小位移量为1mm±0.50mm，
夹具安装尺寸完全按照国家标准执行。

3、产品用途：
    用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡，等卡的弯曲和扭曲性能测试。