Pheda 动态 CMOS 平板探测器

 低剂量，低的剂量获得更清晰的图像；

- 多档位，四档增益自由切换，满足不同应用场景；

 - 大范围，宽动态范围，最大可达 76dB;

 - 全实时，全分辨率和全视野下的实时成像；

 - 高标准，标准的 GigE Vision 协议；

- 适应性，支持 Binning 模式，满足复杂的工业应用需求；

Application 应用领域

 - 芯片与印刷电路检测

 - 精密铸件与锻件检测

 - 汽车、航空领域质量控制

 - 电池生产无损检测

 - 管道探伤与焊点检测