超薄DR平板透视仪，是第一款 43 x 36 厘米的便携式 X 射线平板探测器，可用来替换现有放射成像中应用的标准胶片暗盒。此探测器旨在用于移动系统中，但也适合在现有的 14 x 17 英寸架成像系统中使用。4336DR 拥有 3052 x 2540 像素的有效区域。可用于透视铜管、陶瓷瓷杯、竹木制品、薄金属、工业元器件、纤维、塑料、橡胶等介质的透视，电子元件半导体元器件,BGA,IC芯片,CPU, 电子元件电热丝,发热盘,热敏电阻,电容,集成电路,电路板等无损检测.检测电子元件内部是否变形、脱焊；空焊等,还可用于塑料汽泡等透视检测,

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