一、设备基本说明

X 射线荧光光谱(XRF)分析法是对各种各样材料进行元素测定的一种现代化的通用分

析方法。根据不同的应用要求，其分析浓度范围可从 1ppm 到 100%，而且即使高至 100%的

元素浓度也能直接进行测量而无须进行稀释。XRF 分析法具有样品制备简单、测定元素范

围广、测定精度高、重现性好、测量速度快等特点 。

广泛应用于环保、地质、矿物、冶金、水泥、玻璃、石化、陶瓷、有色金属、药物以及高

科技材料等领域，在产品研究开发、生产过程监控与质量管理等方面起着重要的作用。

二、X 射线荧光分析仪主机介绍

采用同时式波长色散型光谱仪；可装载 10 个以上（含 10 个）分析通道用于多元素同

时测定，元素分析范围为钠到铀，元素预设范围为 9 大元素 Ca、Fe、Si、Al、Na、Mg、S、

K、Cl-，可选加其它元素。分析速度小于 5 分钟。输入电源为单相 220/240VAC，并由主机

向 PC 机和打印机供电。

三、设备各部分主要技术指标

1）分析元素种类：从 Na 到 U 的任意十种元素。

2）X 射线管：Varian 公司生在的 400W 薄铍窗端窗 X 射线管，Rh 靶（Pd 靶可选）

3）X 射线管冷却：专业的循环冷却，无需冷却水。

4） 高压电源：400W ( 50kV8mA ) ，管压管流 12 小时稳定度：优于 0.05 % 。

5）恒温室温度控制精度：设定值 36°C±0.1°C

6）探测器：流气正比探测器十封闭正比探测器，

7）数据处理系统：9 路 2048 道独立脉冲高度分析器。

8）真空系统：独立泵站结构，易于维护，测量室最高真空度：低于 10Pa。

9）流气系统：高精度流气密度稳定装置，压力稳定度达到士 0.01kPa。

10）交流 220V 供电设备：2KVA 交流净化稳压电流。

11）分析精度： ( 24 小时，RSD）≤0.05 ％。

12) 单个样品测量时间：（含换样抽真空时间）≤2-5 分钟

13）分析软件：采用经验系数法和理论ɑ系数法两种定量分析方法，采用全谱检测技

术，实现了各道谱线的即时跟踪和校正，从而大大提高了定量分析的重现性和长期稳

定性，同时也提供了诊断仪器工作状态的直观依据。 完善的自诊断措施。