产品介绍

第三代3DFAMILY X射线荧光分析仪，采用世界上最先进的硅SIPIN探测器（分辨率为150ev），实现了无液态氮检出器下高灵敏度的检测功能。配备自动切换的滤光片及透射式X射线球管，最大程度地缩小了X射线源与被测物体的间距，从而在较低的电压下达到同样的激发效率，同时减少了漫射光的干扰，大大地提高了灵敏度和读数的准确性，重复性。

性能特点

☆  高灵敏度---自动切换4种滤光片

在测定微量成分时，由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响，此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片，有效地降低了背景和散射X射线的干扰，调整出最具感度的辐射，进一步提高了S/N的比值，从而可以进行更高灵敏度的微量分析。

☆  自动定性分析

A， 自动过滤背景

X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，软件可自动过滤背景对分析结果的干扰，

从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。

B， 自动剥离重叠峰

当某些元素的电子由高等级向低等级越迁时释放的能量相近，会使此时谱图的波峰重叠在一起，由

此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰，确保了元素分析的正确性。

C， 自动补偿逃逸峰

逃逸峰：由于采用的是Si针半导体探测器，因此当X射线荧光在通过探测器的时候，如果某种元素

的含量较高(能量也会相应的较高)，其被Si吸收的概率也就越大。此时，光谱图中在该元素的能量

值减去Si能量值的地方回产生一个峰，此峰即为逃逸峰。

D， 自动追踪谱图漂移

 在电压不稳的情况下，可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。

☆  定量分析

A，FP基础参数法

B，标准法

C，1点校正

仪器参数

适用行业

塑料部件、金属部件、电子元件中铅、汞、镉、总铬、溴的筛选测试