美国博曼镀层测厚仪  X射线荧光镀层厚度测量仪

产品副名称：可满足所有度层厚度测量需求的双检测器型镀层厚度测量仪

 ★ 搭载有高功率X射线管及双检测器（半导体检测器+比例计数管） 可对应组合复杂的应用程序，特别是可识别Ni和Cu之类能量较为接近的元素。　能够对Ni/Cu和Au/Ni/Cu在不使用二次滤波器的情况下进行测量  对于含Br的电路板，可以不受Br的干扰对Au的镀层厚度进行高精度的测量 　可测量0.01μm以下的超薄的Au镀层厚度

★ 搭载块体FP发软件和薄膜FP法软件 对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等，适用于广泛的运用领域

★ 适用超微小面积的测量 标准配备的4个准直器，可对超微小面积进行测量。

★ 搭载了可3段切换的变焦距光学系统

★ 拥有防冲撞功能 、 搭载高精度样品平台，更可测量大型线路板， 搭载激光对焦系统

★ 搭载测试报告自动生成软件 产品介绍： 博曼膜厚测量仪搭载有50W高功率X射线管与双检测器（半导体检测器+比例计数管），能满足“薄膜镀层”、“合金镀层”、“超微小面积测量”等镀层厚度测量需求的高性能镀层厚度测量仪。 此外，博曼膜厚测量仪还在测量镀层厚度的基础上，新增了可对不同被测物体积材料进行定性分析和成分分析的功能。

博曼膜厚测量仪产品规格  仪器的特长 微小面积对应及高性能型 可测量元素 原子序号22(Ti)~ 83(Bi) X射线源 小型空气冷却型高功率X射线管球(Mo靶) 管电压：50kV 管电流：1.5mA Be窗 滤波器 一次滤波器：Mo-自动切换二次滤波器：无 照射方式 上方垂直照射方式 检测器 半导体检测器+比例计数管(不需液氮的检测器) 仪器校正 自动校正+手动校正 准直器(标准配置) ○0.1φ, 0.2φmm, 0.3φmm, 1.5φmm安全性能 样品室门锁，样品防冲撞功能 样品图像对焦 有(激光对焦) 样品观察 CCD摄像头+倍率光学器+卤素灯照明 焦点切换功能 3段切换

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