X射线无损镀层测厚仪又名X射线荧光镀层厚度测量仪

【产品简介：】射线荧光镀层厚度测量仪技术参数可测元素：Ti～U X射线管：管电压45KV，管电流1mA 检测器：比例计数管 样品观察：CCD摄像机 对焦方式：激光自动对焦 测定软件：薄膜FP法、检量线法 准直器：4个(0.1φ, 0.2φmm, 0.3φmm, 1.5φmm） 安全机能：测量室门自锁功能 Z轴防冲撞功能仪器自诊断功能 主要特点选用Mo靶材X射线管，测量贵金属更灵敏。 标准配备有Windows 7中文操作界面。 采用检量线法和FP法，4个准直器可自动切换，采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器，可防止在对焦时造成一起的损坏。 可适用于各种样品，从较厚的样品（机械零部件）之大型线路板（PCB）及电子元器件等

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