首创以MS-DWS专利光学技术直接分析流体干燥成膜过程及经时变化之分析仪，可测量成膜微结构变化，以及干燥、硬化时间(Drying and Curing)。透过以下图示，您可以轻松了解Horus成膜特性分析仪如何为您简单分析样品成膜过程之经时变化。

1. 非破坏性检测。 



2. 可在各种基材表面，如玻璃、金属、塑胶等表面进行分析。 



3. 可在镀膜机上直接进行成膜分析(如右图)。