MPO两用膜厚仪校正步骤：
A:磁性
（1）打开电源（用手去接触探头）
（2）利用▲键调至CAL，按OK键，及显示Base
（3）测量底材2-3次，按OK键，即显示STD.1
（4）请将标准片（例：74um）至底材上面测量2-3次。
（5）利用▲▼键把数值调整至标准片上之标准值（例：74um）
（6）按OK键，即完成校准
B:非磁性
校正方法与磁性相同，仅需将素材改为非磁性即可。

MPO两用膜厚仪
1. 钢铁材料上的铜、铬、锌等电镀层或油漆、涂料、搪瓷等涂层厚度。
2. 铝、铜、金等箔、带材料及纸张、塑料膜的厚度。
3. 铜、铝、镁、锌等非铁金属材料上的涂层厚度。
4. 铝、镁材料上阳极氧化膜的厚度。
5. 各种钢铁及非铁金属材料上热喷涂层的厚度。

MPO两用膜厚仪技术指标：
量 程：0～2000μm。
精 度：±1μm（0～50μm）；±2%（50μm～1000μm）；±3%(1000μm～2000μm)。
重复精度： ±0.5μm（0～100μm）； ±0.5%(＞100μm)。
最小测量曲率直径：在精度范围内，铁基φ35mm，非铁基φ50mm；
(在允许误差＜10%时，铁基为φ10mm，非铁基为φ2mm)。
最小测量面积直径：φ4mm(在允许误差＜10%时，为φ2mm)。
最小基体厚度：铁基0.2mm（误差＜10%时）；非铁基0.09mm（误差＜10%时)。
重 量：60g（不含电池)。
外形尺寸：64mm×30m×85mm。
电 源：两节5号电池

配置清单：
主机一台；铁、铝基体各一块；标准片一片；手提仪器盒；操作手册；出厂合格证