菲希尔XUL(M)X-RAY膜厚仪独一无二的WinFTM?（版本3（V.3）或版本6（V.6））软件是仪器的核心。它可以使仪器在没有标准片校准并保证一定测量精度的情况下测量复杂的镀层系统，同时可以对包含多达24种元素的材料进行分析,手动XY工作台或
可编程的XY工作台手动XY工作台或
可编程的XY工作台可编程的XY工作台可编程的XY工作台测试点的放大倍率38 - 184 x20 - 180 x20 - 180 x20 - 180 x30 - 1108 xDCM方法
(距离控制测量)WinFTM?版本V.3 标准
菲希尔XUL(M)X-RAY膜厚仪可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
菲希尔X射线膜厚仪应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.让客户满意，为客户创造最大的价值是金霖始终追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图
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