1. OSD X射线探测器具有惊人的计数率,高达200000,比普通的 Si-Pin X射线探测器获取数据的能力高10倍。
2. 分辨率大大地提高到了,<155keV.
3. OSD强大的获取数据能力使仪器分析速度极快。
4. Au的检测下限LOD高达2ppm, 对贵重金属矿石的如Au、Pt、Ag、Ru、
Rh、Pd的分析有极佳的效果。
5. 可以测试Mg、Al、Si,具有良好的检测下限。
6. 元素的检测下限LOD在OSD状态下有极大的提高,普遍提高1~15倍。
7. 在高含量的矿石分析模式MINING中增加了 BEAM2的功能,可分析Mg, Al, Si, P, S, K, Ca等元素。
8. 可选配真空选件,在真空状态下,Mg的LOD可以提高3倍,Al的LOD可以提高2倍,Si, P, S的LOD可提高0.5~2倍
9. 可选配GIS数据采集手簿TRIMBLE,数据与GPS实现绑,可将仪器测试点的矿化信息通过蓝牙传到TRIMBLE上,再与TRIMBLE上自动产生的经度、纬度、海拔进行连接,实现测试信息与GPS同步处理。