XDL光谱膜厚仪（菲希尔）配备微焦距XRAY管，四个电动移动准值器，尺寸为圆形直径0.1MM；0.2MM；及方形的0.05MM*0.05MM；0.03MM*0.2MM，还有三个基本滤片选用，使光谱圈更合适分析，XDL光谱膜厚仪（菲希尔）基本操作软件WINFTM V6 LIGHT，可以同时间测量多至层镀层、或进行多至5元素的合金分析、又或是最多测量两个正离子的药水浓度测量分析。XDL光谱膜厚仪（菲希尔）采用最新数学FP法，采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器，可防止在对焦时造成一起的损坏。带测量距离固定的X-射线头，这一特性提供了能在复杂几何外形的测试工件和不同测量距离上实现简便测量的可能性。在加强的软件功能之下，简化了测量比较复杂镀层的程序，甚至可以在不需要标准片之下，一样精准测量。XDL光谱膜厚仪（菲希尔）可适用于各种样品，从较厚的样品（机械零部件）之大型线路板（PCB）及电子元器件、表、端子、小螺丝、螺丝帽、一些电气产品中的小五金零件等等等 。你的需求，便是我们的追求，期待您的来电，金霖电子华南地区总代理 吴小姐 手机：13603036715   TEL：29371651 FAX：29371653 QQ：1351791466  邮箱：www.kinglin5158@163.com   地址：宝安中心区宏发中心大厦