金属膜厚测试仪一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。  它的出现解决了分析和测量日趋小型化的电子部件，包括线路板，芯片和连接器等带来的挑战。金属膜厚测试仪采用创新技术，目前正在申请专利的X-射线光学可以使得在很小的测量面积上产生很大的辐射强度，这就可以在小到几?reg;微米的结构上进行测量，能够在非常精细的结构上进行厚度测量和成分分析。金属膜厚测试仪测试方向由下向上照射的设计是只需要对准量位置，而不需要调校焦距便可以进行测量，并且由下向上的照射，极适合对一些较小的样板进行测量，尤其是对手表、端子、小螺丝、螺丝帽、一些电气产品中的小五金零件等等，操作员只需将测试面朝下，不论大小的样品可直接放进测量室内，不用调距离，只需对准位置，便可立即测量。你的需求，便是我们的追求，期待您的来电，金霖电子 吴小姐 手机：13603036715   TEL：29371651 FAX：29371653 QQ：1351791466  邮箱：www.kinglin5158@163.com   地址：宝安中心区宏发中心大厦