BC3193 半导体分立器件测试系统
系统用途
BC3193半导体分立器件测试系统是半导体参数测试的专用设备,用于半导体器件生产厂家进行圆片中测或封装成测，各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、可靠性分析测试
系统特点
◆ PC机为系统的主控机
◆ 菜单式测试程序编辑软件操作简便
◆ 预先连接测试自动识别NPN/PNP
◆ 0～±2000V程控高压源
◆ 高达±1000A程控高流源
(外接高流台可扩充到±1000A)
◆ 测试漏流最小分辨率达6.1pA
◆ 四线开尔文连接保证加载测量的准确
◆ 通过IEEE488接口连接校准数字表传递国家 计量标准对系统进行校验
◆ Prober接口、Handler接口可选（16Bin）
◆ 可为用户提供丰富的测试适配器
测试对象
二极管/稳压管/恒流二极管/整流桥/瞬态抑制管： BVR、IR、VF、VZ、RZ
三极管： BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、 ICES、ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT
可控硅： BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、
IH、IL、VGT、VON
场效应管： BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVGDS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS(on)、VDS(on)、VGS、VGS(th)、VP
IGBT： BVCES、BVCGR、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VGS(off)
达林顿矩阵：ICEX、 IIN(ON)、 IIN(Off)、 VIN(on)、 IR、VCESAT、BVR、HFE、ICEO
单结晶体管：Iv、Vv、IP、VP、VEB1、ETA、RBB、IEB1O、IB2
光敏二、三极管：ID、IL、VOC、 ISC、BV、BVCE
光耦（输出类型：二极管、三极管、可控硅、MOSFET）： CTR、BVECO、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBESAT、VCESAT、IR、IAKF、IAKR （加时间测量选件Tr、Tf、Toff、Ton）
固态继电器：IFoff、IFon、IR、Ioff、Ion、RON、VF、VR、Von
硬件基本配置
主控计算机一台：Windows操作系统、PCI插槽1个以上；
计算机PCI接口板(CPUINT)一块；系统接口板(SYSINT)一块(含GPIB接口)；
数据采集板(VM)一块；
40A/30V程控电流电压源(VIS)二块；
±2000V程控电压源(HVS)一块；
电流/电压转换板(IVC）一块；
电源控制板(PWC)一块；
测试台矩阵板(STATION)一块；
自检模板2个；
测试适配器4个（二极管、TO-92、TO-3、TO-220）