◆产品通用性高,只需换颗粒限位框,即可测试尺寸不同的颗粒(宽度≤13MM 长度≤14MM);
◆产品全新设计,相比以前更薄,预留插槽卡位,不需转接槽可直接插到测试板上进行测试,
把频率衰减降到最低,减少误测;
◆有球无球均可测试,颗粒压板通过使用高精度自适应弹簧保证每个 IC 平衡下压;
◆采用手动翻盖滚轴式结构,操作省力方便,相比同类产品减少磨损,达到更高的使用寿命;
◆采用台湾著名厂家生产的内存颗粒测试专用 PCB,金手指、IC 焊盘镀金层是普通 PCB 的 5
倍,保证测试治具有更好的导通和耐磨性,相比同类产品具有更好的超频性能及使用寿
命;
◆采用带定位孔内存颗粒测试专用 PCB,探针板与 PCB 孔定位,保证探针与 PCB 精确定位,
如有损坏用户可自行更换维修,简单方便,减少返厂维修,为客户争取宝贵时间;
◆采用超短进口双头探针设计,相比同类测试产品使 IC 与 PCB 之间数据传输距离更短,从
而使测试更稳定,频率更高,DDR3 系列频率可达 2000MHZ;
◆探针板采用定位销加螺丝结构,在使用过程中如有探针损坏,客户可自行更换维修,方便
维护,为生产争取宝贵时间;
◆高精度合金 IC 定位框,保证 IC 定位精确,取放 IC 方便,从而提高测试效率;
◆测试寿命长,有效测试 10 万次以上;(视使用环境及相关操作而定)
◆内存颗粒测试治具测试规格:DDR2X8 DDR3X8 一次性可测试 8 颗内存颗粒;
◆可以定制单颗内存 IC 与服务器主控 IC 的测试治具
◆可以免费提供相关的技术支持。
产品服务:
※该产品用户可自行维修,本公司按成本价提供相关配件;
※保修期内,免费维修(人为损坏、烧坏除外),如果需换件,只收材料成本费。