硬件獨特性:              聯繫人:尤濤                   電話:13197306070

雙屏顯示設計，造型時尚專業，帶多節點預啟動裝置和實時監控系統；帶門鎖電鎖，使得日常管理更便捷；已集成工業級計算機，無需再外接電腦；加裝自動防輻射洩漏裝置，主動性的保証使用人員安全；帶電動開蓋裝置，令測試更輕鬆。超高的分辨率可輕鬆解決貴金屬行業無損分析的任何複雜要求。為貴金屬行業性價比最好的頂級光譜儀。

激發源：Mo靶的X光管 風冷 (無輻射）

測量點尺寸：1～2mm

樣品室: 長400 mm×寬: 300mm×高: 0～90 mm樣品放大成像系統

軟件：XRF6.0菜單式軟件，帶硬件參數調整和數據評估及計算

探測器：Si-PIN 探測器

其它規格：

電壓：交流220V/50Hz
最大功率:144W
最大處尺寸:500mm*500mm*400mm
重量:30kg

技術指標：

分析範圍：0.001%～99.999%
測量時間：自適應
測量精度： ± 0.001%--0.1%

分辨率  ：120-170eV at Mn K-aipha
測試環境：常溫常態
分析元素：除貴金屬常含元素和銥、鋨等鉑族重金屬能全面測試外，該型號還能對從AL至U的所有元素進行分析，實為貴金屬行業常量分析中的實驗室級光譜儀。
X射線源：X射線光管
高壓器：4～80Kv
分析：多通道模擬
操作系統:Windows2000/Me/XP,win7

鍍層測量：

鍍層厚度範圍<30μm
可測量元素種類：金Au 、銀Ag 、鉑Pt 、鈀Pd、銠Rh 、釕Ru 、銅Cu 、鋅Zn 、鎳Ni 、鎘Cd、銦In另外對銥Ir,鋨OS等70多種元素。
最大測量層數：5層
測量精度度：0.03μm