分析範圍： 0.001%～99.999%
測量時間： 自適應
元素分析： 從Al～U的所有元素
測量精度： ±0.001%～0.1%
X射線源：Mo靶的X射線光管
風冷（無輻射）
攝像頭：高清晰攝像定位系統，工作可靠，效率高
雙屏顯示設計，造型時尚專業；集成工業計算機，無需外接電腦；超高的分辨率可以輕鬆解決貴金屬行業無損檢測的任何複雜要求，為貴金屬行業頂級光譜儀。
探測器：Si-PIN探測器；半導體制冷
高壓器：4～80Kv
分析：多通道模擬
軟件：XRF6.0菜單式軟件，帶硬件參數調整和數據評估及計算；軟件除能顯示金屬百分比純度外，亦可顯示黃金K值；軟件可自動重複檢測，自動測算多次檢測的均值
鍍層測量：鍍層厚度範圍<30um
溫度：5～46℃
電壓： 220～240V,50/60Hz
最大功率：144W
重量：35公斤
尺寸：605*432*284mm
操作系統： Windows2000/Me/XP

廠家：深圳市西凡科技有限公司
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