詳細資料：
4156C 精密半導體參數分析儀

4156C精密半導體參數測試儀是Agilent下一代的精密半導體參數測試儀，4156C為高級器件表征提供了高精度頂級參數分析的實驗室平台。較高的低電流、低電壓分辨率和內置准靜態CV測量能力，4156C還為以後和其他的測量儀器的擴展使用提供了堅實的基礎。41501B擴展測量能力到1A/200V，並給4156C增加一個低的噪聲接地單元和雙脈衝發生器。
4156C是基於PC的參數分析和表征的解決方案，標準配置包括一個參數分析儀，Agilent I/CV 3.0 Lite自動測試軟件， Windows XP Professional的操作系統。I/CV 3.0 Lite軟件可以提供一個圖形操作界面，具有強大的分析工具，探針台驅動，和自動測試工具。
特性
· 4156C提供4個內置的高分辨率的源/監控單元（HPSMUs），兩個電壓源單元（VSUs）和兩個電壓監控單元（VMUs）
· 1 fA 和0.2 uV的測試精度可滿足開發新工技術和評價材料
· 全Kelvin，每個HRSMU有激勵源、感應和接地端
· 完成准靜態的電容對電壓測試
· 自動提取處理參數而不需要人工操作屏幕光標
· 用極低洩漏的SMUs測量特有洩露特性
· 用集成的脈衝發生器和選擇開關自動完成器件表征
· 用內置的應力模式完成晶片的可靠性測試
· 用圖形用戶界面完成“點擊”測試
· 基於Windows環境的圖形數據分析能力
· 旋鈕掃描功能可以快速檢驗探針是否接觸正常
· 待機模式不需要外部電源
· 觸發模式可以同步AC/DC測試。
· IBASIC 用戶功能可以繪圖和分析數據。

儀器保証：
我們的大多數設備在裝運之前均經過嚴格的質量檢測與校驗。也可申請國家計量証書。