TX-200 熒光測厚儀採用X熒光分析技術，可以測定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，它也可以進行電鍍液的成分濃度測定。它能檢測出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預處理；分析時間短，僅為數十秒；即可分析出各金屬鍍層的厚度，分析測量動態範圍寬，可從0.01μM到30μM。
具有快速、準確、簡便、實用等優點。

儀器特點：

1、同時分析元素週期表中由鈉（Na）以上元素的鍍層厚度；

2、可以分析單層、雙層、三層等金屬及合金鍍層的厚度；

3、無需複雜的樣品預處理過程；分析測量動態範圍寬，可從0.01μM到30μM ；

4、採用先進的探測器技術及先進的信號處理線路，處理速度快，精度高，穩定可靠；

5、採用低功率X光管，激發與測試條件採用計算機軟件數碼控制與顯示；

6、採用彩色攝像頭，準確定位測量位置；準確觀察樣品並可拍照保存樣品圖像；

7、採用固定式控制樣品平台，準確方便；

8、精確度高，穩定性好，故障率低；

9、採用多層屏蔽保護，輻射安全性可靠；