自動光反射膜厚測試儀
| 型號： | NanoSpec II |
|---|---|
| 品牌： | NANOMETRICS |
| 原產地： | 美國 |
| 類別： | 電子、電力 / 儀器、儀表 / 電子測量儀器 |
| 標籤︰ | 可見光 , 膜厚測試儀 , 光斑量程 |
| 單價： |
-
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| 最少訂量： | 1 件 |
產品描述
自動wafer對位，自動對焦
光斑：紫外到可見光：14um，可見光40um
量程：
- 30nm-120um
- 可見光20nm-30um
- UV-可見光 3nm-10um
會員信息
| 德儀國際貿易（上海）有限公司 | |
|---|---|
| 國家/地區︰ | 上海市徐汇区 |
| 經營性質︰ | 貿易商 |
| 聯繫電話︰ | 13701647297 |
| 聯繫人︰ | 朱國華 (銷售經理) |
| 最後上線︰ | 2015/01/13 |