法國Ph 公司的產品基於其波前測量專利技術，即4 波橫向剪切干涉技術。（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。在增強型改進型哈特曼掩模的基礎之上，這種獨特技術將超高分辨率和超大動態範圍完美結合在了一起。任何應用下，其都能實現全面、簡便、快速的測量。

SID4: 一款緊湊型的波前傳感器

SID4 波前傳感器體積小巧，結合了傳統的剪切干涉的優勢，

安裝使用簡單。產品的優勢在於4 波橫向剪切干涉技術

（基於改善後的哈特曼衍射遮擋板）。SID4 是測量光束特性

的必要工具，在光學測量方面有着許多應用。

波長範圍：350-1100nm

分辨率高（160*120）

消色差

測量穩定性高

對震動不敏感

SID4 HR:高分辨率波前傳感器

300x400  個測量點的相位圖，保証了高精度測量，可用於對

各種光學器件的測量，如透鏡，物鏡，球面鏡，微透鏡特征

測量等

波長範圍：400-1100nm

高性能的相機，信噪比高

實時測量，立即給出整個物體表面的信息（120000 個測量點）

曝光時間極短保証動態物體測量

SID4bio：波前傳感器

SID4bio 波前傳感器是基於其全新的專利技術‐4 波橫向剪切干涉技術。（4‐Wave Lateral Shearing Interferometry）。可同時定量的測試物樣品內部的基本相位改變和生強度。

SID4bio 是第一款擁有靈敏性測試的緊湊型相位成像儀。

波前測量波長範圍從190nm 到400nm。SID UV-HR 是一款

適用於紫外波段的高分辨率波前傳感器，SID4 UV-HR 非

常適用於光學元件測量（例如印刷、半導體等等）

和表面檢測（半導體晶片檢測…）。

高分辨率（250*250）

通光孔徑大（8.0mm*8.0mm）

覆蓋紫外光譜

靈敏度高（0.5um）

優化信噪比

SID4 NIR 是一款覆蓋近紅外範圍（1.5um-1.6um）的高分辨率波前傳感器。

鏡像差、PSF、MTF 和焦距及表面質量的理想工具。

高分辨率（160*120）

絕對測量

快速測量

對於振動不敏感

性價比高

SID4 DWIR: 高分辨、雙波段紅外波前傳感器

業界第一款高分辨率雙波段紅外波前傳感器(from 3 μm to 5 μm and from 8 μm to 14 μm)

光學測量：SID4 DWIR 是測量紅外物體特性（熱成像和安全視覺）或紅外透鏡（CO2激光器）的理想工具，輸出結果包括MTF，PSF，像差，表面質量和透鏡焦距。

光束測量：（CO2 激光器，紅外OPO 激光光源等等）SID4 DWIR 提供詳盡的光束特性參數：像差，M2，光強分布，光束特性等）

高分辨率（96*72）

可實現絕對測量

可覆蓋中紅外和遠紅外波段

大數值孔徑測量，無需額外中轉透鏡

快速測量

對振動不敏感

可實現離軸測量

性價比高

上海瞬渺光電技術有限公司

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