型號: | EXF9600 |
---|---|
品牌: | 西凡 |
原產地: | 中國 |
類別: | 電子、電力 / 儀器、儀表 / 分析儀器 |
標籤︰ | 貴金屬分析儀 , 測金儀 , 光譜儀 |
單價: |
-
|
最少訂量: | 1 件 |
硬件獨特性:雙屏顯示設計,造型時尚專業,帶多節點預啟動裝置和實時監控系統;已集成計算機,無需再外接電腦,計算機採用觸屏設計,操作流暢便捷;加裝自動防輻射洩漏裝置,主動性的保証使用人員安全;內置打印機,計算報告方便快捷;獨具短信報錯功能,操作是否符合規範一目瞭然;超高的分辨率可輕鬆解決貴金屬行業無損分析的任何複雜要求,為貴金屬行業性價比最好的頂級光譜儀。
軟件優越性:全新菜單式軟件,帶硬件參數調整和數據評估及計算系統;軟件除能顯示金屬百分比純度外,亦可顯示黃金K值;軟件可自動重複檢測,自動測算多次檢測的均值;獨具全局故障判斷功能;計算報告的打印格式多樣化,完全滿足客戶各種形式的打印要求。
激發源:Mo靶的X光管 風冷 (無輻射)
探測器:Si-PIN 探測器 (美國進口) 145Kev ± 5
高壓裝置:0—50KV
其它規格:
電壓:交流220V/50Hz
最大功率:144W
最大處尺寸:650mm*450mm*340mm
重量:32kg
技術指標:
分析範圍:0.001% ~ 99.999%
測量時間:自適應
測量精度:± 10ppm ~ 0.1%
分辨率 :145Kev ± 5
測試環境:常溫常態
分析元素:除貴金屬常含元素和銥、鋨等鉑族重金屬能全面測試外,該型號還能對從Na至U的70多種元素進行分析,實為貴金屬行業常量分析中的實驗室級光譜儀。
X射線源:X射線光管
高壓器:0~50Kv
操作系統:Windows2000/Me/XP
鍍層測量:
鍍層厚度範圍<30μm
最大測量層數:5層
測量精度:0.03μm
西凡仪器(深圳)有限公司 | |
---|---|
國家/地區︰ | 广东省深圳市 |
經營性質︰ | 生產商 |
聯繫電話︰ | 13146215210 |
聯繫人︰ | 葉小姐 (銷售經理) |
最後上線︰ | 2024/01/25 |