雙折射測量系統
雙折射測量系統也叫雙折射應力測試儀，全自動雙折射測量系統ABR-10A ( 高解析度、高速型) 雙折射係數的線性解析度高達0.01nm ； 可同時測量延遲軸和主軸兩個方向； 基於光學相位差的雙折射係數顯示； 一秒采樣時間； 應用： 液晶顯示屏膜； 聚合物膜的取向；DVD 和CD 光學系統組件； 由於薄膜和基材之間熱膨脹係數不同引起的應力； 某些透明材料的內部殘餘應力，如光學玻璃和塑料； 某些透明材料的熱應力； 光彈性係數； 全自動雙折射測量系統ABR-22( 自動測量線性和周向雙折射係數，高速型)

雙折射測量系統/雙折射測試儀
特點：
1）可同時或獨立測量線性和周向雙折射係數；
2）無需樣品旋轉，即可測量主軸和延遲軸的線性雙折射係數、圓周雙折射係數的旋轉角；
3）一秒采樣時間；
4）可選樣品旋轉台；
5）二維或三維顯示 雙折射係數的線性解析度高達0.01nm ；
6）可全自動操作；

應用：
1）液晶顯示屏(TN, STN) 的雙折射分布 ；
2）液晶顯示屏(TN, STN) 的雙折射係數與電壓的關係；
3）電－光學器件( 如：Pockel 效應、Faraday 旋轉、Kerr 旋轉等) ；
4）光學晶體研究；
5）聚合物膜研究；

全自動雙折射測量系統ABR-30( 超高速型) 特點：
1）可以實現雙折射係數的高速測量：100 微秒；
2）維護成本極低；
3）二維或三維顯示；
4）可選樣品旋轉台；
5）操作方便；

應用：
1）在靜態和高速旋轉速度下進行光學儲存器件表征；
2）動態雙折射研究( 如液晶、高分子) ；
3）對某些透明材料的熱衝擊；
4）動態光彈性係數；
5）光學相位調製器；

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儀器尺寸(WxDxH)：400*360*200 mm
儀器重量：15kg