針對LED進行壽命測試，設備硬件依據LM-80標準測試方法開發設計，完全符合LM-80測試要求。該系統可精確設定高低溫環境，使LED暴露在高溫環境下，同時又精確控制LED結溫，使LED在高溫條件下老化，加速其光度衰減。並可根據不同時間節點的測試數據，推算出LED的壽命。系統設計極為人性化，LED老化設備方便與積分球系統對接測量，有效的提高測量效率。

 

     

 

特點

 

❉   環境溫度 能夠有效控制LED的老化環境溫度，即週圍空氣溫度

❉   濕度控制 對於老化溫度箱內的濕度進行自動控制，並滿足LM-80要求

❉   殼溫控制 能夠控制每一組LED的殼溫

❉   溫度測試 在廠家指定TS點的情況下，能夠對每一顆LED的殼溫進行測試

❉   電流控制 每一顆LED由獨立電流源供電，可單獨控制輸出電流

❉   時間採集 精確採集每一組LED被點亮的老化時間

❉   故障管理 自動扣除失效LED的老化時間

❉   關閉週期 開關型LED，自動扣除關閉半周的時間

❉   測試速度 能夠在120秒內測量一組20顆LED

❉   光度測試 5/10/20顆LED一組，每顆LED可順序切換，單獨測試光度值

❉   色度測試 5/10/20顆LED一組，每顆LED可順序切換，單獨測試色度值

❉   系統標準 標準燈可追溯到NIST

❉   條碼掃描 可根據要求拓展條形碼掃描功能，自動讀取產品編號

❉   控制備份 有自主備份計算機，既可實現數據備份，也可實現控制備份

❉   測試參數 包括光度參數、色度參數、溫度參數、濕度參數、時間參數、電學參數

❉   系統分離 整個系統分為老化、測量、分析輸出三部分

❉   壽命估算 提供參考壽命估算模型，也可以定製分析方法

❉   測試報告 自動輸出測試報告，並根據分析方法，得出壽命推算值

 

案例

 

❉   東莞質檢

❉   常州質檢