二手現貨吉時利  KEITHLEY4200 半導體曲線分析儀

• 直觀的、點擊式Windows操作環境
• * 獨特的遠端前置放大器，將SMU的分辨率擴展至 0.1fA
• * 用於高級半導體測試的新型脈衝與脈衝式I-V功能
• * 集成了示波與脈衝測量功能的新型示波卡
• * 內置PC提供快速的測試設置、強大的數據分析、製圖與打印、以及測試結果的大容量存儲
• * 獨特的瀏覽器風格的軟件界面，根據器件的類型來安排測試，可以執行多項測試並提供測試序列與循環控制功能
• * 內置了Stress/Measure，循環和數據分析功能，通過鼠標點擊方式就可進行可靠性測試，包括5個JEDEC規範的樣品測試
• * 支持 Keithley590 型與 Agilent 4284/4294型C-V儀、Keithley開關矩陣與Agilent 81110脈衝發生器等多種外圍設備
• * 硬件由 Keithley交互式測試環境（KITE）來控制，用戶測試模塊功能，可用於外接儀表控制與測試平台集成，是KITE功能的擴充
• * 包括驅動軟件，支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300，Micromanipulator 的8860自動和手動探針台
• * 支持先進的半導體模型參數提取，包括IC-CAP和Cadence
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• 在分析器件特性時，脈衝I-V測試非常適於防止器件自發熱或最小化電荷俘獲效應。通過用窄脈衝和/或小占空比脈衝代替直流信號，可以在保持DUT性能的同時提取重要參數。瞬態I-V測量能讓科學家或工程師在時域採集超高速電流或電壓波形以便研究動態特性。