GEM Compact自動光學檢測系統是一款完全創新的輕巧檢測方案。安維譜（MVP）的桌上型AOI具有現在配備以前只有在線系統纔有的，不可超越的高性能和高分辯率。GEM Compact依靠全面的檢測方案，在複雜的檢測挑戰中有着突破性進展。
安維譜在其所有AOI系統中都使用一種軟件平台，並且將在線設備的軟件引入到桌上型檢測系統GEM Compact上。以MVP嚮導式的易用型編程軟件ePro以及自動優化（Auto-Optimize）嚮導為特色，使得GEM Compact是一款高性價比、功能強大的解決方案，用於低產量、高混合以及新產品引進（NPI）狀況。
擁有在線式AOI性能的桌上型AOI
非常適合於低產量、高混合產品及NPI
屢獲殊榮的易用型iPro軟件
可用於回流焊前後
程序與在線式AOi兼容
較低的擁有成本
主要特點包括：
只有同類系統一半大小
完整的焊點檢測
完全兼容MVP在線檢測系統，程序可通用
最佳性價比
專有的飛行檢測系統為桌上型設備的檢測速度帶來了質的飛躍
測試速度：
配置一個140萬像素照相機，圖像採集速度為34M像素/秒
高達32平方釐米/秒（5平方英吋/秒）檢測速度，還取決于板的布局、零件密度及視場範圍的大小
系統硬件：
最先進技術的大規格彩色照相機
專利的“飛行”圖像採集技術
程序控制不同的LED燈光
視場範圍分辨率17微米/像素
可檢測0201
系統軟件：
以CAD為基礎，基於算法庫和類型庫的編程軟件
已証實的高性能、適應性強的算法，具有極高的缺陷檢測能力和很低的誤報率
完整的網絡整合（TCP/IP,NFS協議）
實時統計製程控制（SPC）軟件包
生成檢測報告的實用程序
檢測程序更改追蹤
第五代成熟的檢測軟件
多層測試技術，可調燈光亮度
兼容MVP動態製程控制
物理規格：
外形尺762（L）*610(W)*355(H)mm(30*24*14")
重量55公斤（121磅）
最大板尺寸305*406mm（12*16"）
上方元件容許高度：55mm（2"）
下方元件容許高度：38mm（1.5"）
220-240伏，50/60赫茲交流電，10安培
選件：
用於錫膏和回流焊前檢測的低燈
條碼掃描儀
黑色照相機
缺陷標籤打印機
不間斷電源（UPS）