Pheda 動態 CMOS 平板探測器

 低劑量，低的劑量獲得更清晰的圖像；

- 多檔位，四檔增益自由切換，滿足不同應用場景；

 - 大範圍，寬動態範圍，最大可達 76dB;

 - 全實時，全分辨率和全視野下的實時成像；

 - 高標準，標準的 GigE Vision 協議；

- 適應性，支持 Binning 模式，滿足複雜的工業應用需求；

Application 應用領域

 - 芯片與印刷電路檢測

 - 精密鑄件與鍛件檢測

 - 汽車、航空領域質量控制

 - 電池生產無損檢測

 - 管道探傷與焊點檢測