拍照式三維掃描儀

型號：	XTOM
品牌：	西博
原產地：	中國
類別：	電子、電力 / 儀器、儀表 / 光學透鏡和儀器
標籤︰	三維掃描儀 , 拍照式三維掃描儀 , 白光三維掃描儀
單價：	¥200000 / 件
最少訂量：	1 件

發送查詢

產品描述

XTOM三維面掃描系統基於雙目立體視覺原理，採用國際最先進的外差式多頻相移三維光學測量技術，單幅測量幅面大小（從30毫米到1米）、測量精度、測量速度等性能都達到國際最先進水平，與傳統的格雷碼加相移方法相比，測量精度更高，單次測量幅面更大、抗干擾能力強、受被測工件表面明暗影響小，而且能夠測量表面劇烈變化的工件，可以掃描測量几毫米到几十米的工件和物體。廣氾適用於各種需求三維數據的行業，如汽車工業、飛機工業、摩托車外殼及內飾、家電、雕塑等。

系統主要由測量頭、控制箱、標定板、標誌點、計算機及檢測分析軟件等組成。

技術指標

指標名稱	技術指標
核心技術	雙目立體視覺、多頻外差相移
掃描方式	非接觸式三維白光面掃描方式
※測量幅面	支持30毫米到1米的測量幅面，根據需求可實現多種測量幅面：32mm×24mm、64mm×48mm、128mm×96mm、200mm×150mm、400mm×300mm、800mm×600mm等。
測量相機	支持一百萬到四百萬像素相機，支持千兆網、USB2.0、USB3.0等多種接口的相機
※相機標定	支持多測頭同時標定，支持外部圖像標定
單幅掃描精度	0.008-0.05mm
測量點云間距	0.05-0.5mm
單次掃描時間	2-4s
測量結果格式	點云（ASC，PLY，WRL），三角形網格（STL），紋理貼圖（OBJ）
※拼接方式	支持基於標誌點和基於被測物特征的兩種全自動拼接方式
※全局拼接	支持導入攝影測量系統計算的全局點進行測量，提高測量精度
※選區掃描	支持手動選擇區域進行掃描，提高掃描速度和後期處理效率
※紋理掃描	在掃描物體三維形狀的同時還可以掃描得到並輸出紋理信息
※點云后處理	具備點云優化降噪、點云融合（重疊面刪除）、點云補洞、三角化等自動后處理功能
※分析報告功能	具備點云測距、多種坐標變換、元素擬合、各種角度及尺寸分析功能
系統兼容性	兼容32位、64位系統