XTDIC-Micro顯微應變測量分析系統將數字圖像相關法（DIC）與雙目體式顯微鏡技術結合，通過追蹤獲取顯微鏡下材料表面變形過程的序列二維散斑圖像，解算出被測物體在各變形狀態微觀尺度的三維全場位移場和應變場，實現微小物體變形過程中物體表面的三維坐標、位移及應變的測量。系統目前廣氾的應用於生物力學、動態應變測量、高速變形測量、斷裂力學、及動態材料試驗中測量材料特性參數等。系統具有速度快，精度高，易操作等特點，對於微結構件的力學性能測試具有重要意義。

系統應用範圍包括：

• 微觀形貌、應變分析（微米級）
• 生物力學（骨骼、肌肉、血管等）
• 零部件試驗（測量位移、應變）
• 材料試驗（楊氏模量、泊松比、彈塑性的參數性能）
• 斷裂力學性能
• 均勻和非均勻材料變形過程中的行為分析
• 各種各向同性和各向異性材料變形特性