WFX-10微分干涉檢測顯微鏡

微分干涉工業檢測顯微鏡WFX-10型，有無限遠光學系統，配置長工作距離平場復消色差物鏡，架台穩定可靠，精確調焦機構。廣氾應用於工業檢測顯微鏡、LED液晶顯示屏導電粒子檢測、DIC微分干涉檢測、集成電路板檢測、金相顯微材料科研等領域。

應用範圍：
 微分干涉顯微鏡，應用於工業檢測顯微鏡，在光學儀器上可加裝或改裝檢測顯微鏡裝置，可對LED導電粒子分析檢測，生產手機廠家顯示屏檢測、電視電腦液晶顯示屏檢測，專業DIC微分干涉檢測。

規格配置：

1.   無限遠光學系統：F=200MM

2.   光學放大倍數：50X/100X/200X

3.   長工作距離：20～45MM

4.   調焦範圍：60MM

5.   平台移動範圍：X:±75MM、Y: ±75MM

6.   照明系統：垂直LED照明、透射LED照明

7.   成像裝置：數字相機或模擬攝像頭

WFX-10微分干涉顯微鏡四種觀察方式：

1.   DIC微分干涉觀察：在系統插入DIC稜鏡裝置后（渥拉斯頓稜鏡），能突出樣品各組成之間的相對層次關係，使之呈明顯的浮雕狀圖案，並且對顆粒、裂紋、孔洞以及凸起狀等能作出正確的判斷。WFX-10微分干涉觀察，特別適用於液晶顯示屏導電板的檢測，能夠清楚觀察到導電基板上的導電粒子。

2.   透射觀察：採用亮度可調的透射照明，可觀察透明樣品。尤其適用於液晶顯示屏的品質檢測，能清楚觀察液晶顯示器發光屏的三色模塊。

3.   明場觀察：亮度可調同軸LED照明，視野清晰明亮，適合集成電路的檢驗、精密製造業的裝配、零件檢測和品質控制。

4.   偏光觀察：系統內裝置偏光機構。可調的檢偏鏡，便於正交觀察。廣氾應用於金相試樣、高分子試樣、岩礦、煤岩等偏光觀察。