31WIA 一米平面光柵攝譜儀

• 用途：

本儀器利用平面反射式光柵分光研究物質的成份和含量，主要用於金屬合金（包括礦物礦井石）的日常定性量分析，純金屬和材料的雜質鑑定，與各種附件配合，用作激光微區分析、記錄閃光和弱光現象。

• 規格：

工作波段：                    200nm～850nm

攝譜儀焦距：                  F=1050㎜

相對孔徑：                    1︰22

狹縫主要技術指標：            寬度範圍0.002～0.3㎜          寬度分度值0.001㎜

                              有效高度10㎜                  寬度再現性0.001㎜

波長顯示：                    計數器（精度±1nm）

光柵：                        1200條/㎜光柵2塊

外形尺寸：長×寬×高          1300×1500（包括導軌在內）×600㎜

重量：                        100㎏

• 儀器成套性：

31WIA平面光柵攝譜儀主機                       1台

         聚光鏡組（一）及其座子                         1組       附保護片2片

         聚光鏡組（二）及其座子                         1組

         燕尾形導軌                                     1根

         暗盒240×90（毫米）                            2只       1只備用

         毛玻璃                                          1塊

         8倍放大鏡                                      1只

         十字蓋                                         1只      調整透鏡照明系統用

         Ⅰ、Ⅱ級光譜濾色片                             各1組    裝在小木盒內

         1200條/㎜平面光柵（閃耀波長300 nm）           1組      裝在精製木盒內

                                                                （附40×50光柵光欄一塊）

         1200條/㎜平面光柵（閃耀波長600 nm）           1組    （附40×50光柵光欄一塊）

1800條/㎜平面光柵（閃耀波長300 nm）           1組    （此光柵為選購件）

太陽鏡                                         1付

電極架（包括快速電極夾2付）                   1組      備用1付

使用說明書                                     1份

工作台                                         1台      包括儀器操作控制器

標準譜板                                       2塊

譜線圖                                         1套

安裝工具（內六角扳手）                         1把

出廠証明書（合格証）                           1份

ADE-20交直流電弧發生器                        1台

裝箱單                                         1份

連接導線                                       5根

保險絲0.5A                                     3只

轉椅                                           1把