產品說明、技術參數及配置

 

EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無

 

損分析。

該儀器的主要特征是利用智能真空系統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發

 

效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行精確分析，在冶

 

煉過

 

程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。

另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣氾。

性能特點

高效超薄窗X光管，指標達到國際先進水平

最新的數字多道技術，讓測試更快，計數率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效

 

果更好

SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比

低能X射線激發待測元素，對Si、P等輕元素激發效果好

智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的範圍

自動穩譜裝置保証了儀器工作的一致性

高信噪比的電子線路單元

針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣

解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度

多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制

內置高清晰攝像頭

液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目瞭然

技術參數

產品型號：EDX 4500H

產品名稱：X熒光光譜儀

測量元素範圍：從鈉（Na）到鈾（U）

 

元素含量分析範圍： ppm—99.99%（不同元素，分析範圍不同）

同時分析元素：一次性可測几十種元素

測量時間：30秒-200秒

探測器能量分辨率為：145±5eV

管壓：5KV-50KV

管流：50μA-1000μA

測量對象狀態：粉末、固體、液體

輸入電壓：AC 110V/220V

環境溫度：15℃-30℃

環境濕度：35%-70%

樣品腔體積：320mm×100mm

外形尺寸：660mm×510mm×350mm

重量：65Kg

標準配置

高效超薄窗X光管

SDD硅漂移探測器

數字多道技術

光路增強系統

高信噪比電子線路單元

內置高清晰攝像頭

自動切換型准直器和濾光片

自動穩譜裝置

三重安全保護模式

可靠的整體鋼架結構

90mm×70mm的狀態顯示液晶屏

真空泵

應用領域

合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）