微束XRF塗層厚度和材料分析儀，方便快速進行質量控制和驗証測試，在几秒內即可獲得準確的數據。

基於X-光熒光的塗層厚度和材料分析是業內廣氾接受認可的分析方法，提供易於使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素週期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。

技術參數

憑借卓越的分辨率和高效率 SDD，MAXXI 6 是測量最薄塗層和痕量元素成分的理想儀器。MAXXI 6 具有多達6個主濾波器和8個准直器，能夠處理最具挑戰性的應用。巨大的開槽室設計是小、大或長樣本的理想選擇。優化的硬件配置可以直接分析化學鍍鎳應用中的%P。

X-Strata920 可被配置為三個不同的樣品台配置，以應對各種不同的樣本形狀和尺寸。標準台可以快速定位小或薄部件。加深台基座有一個可移動托盤，可快速被配置，以搭配小或大零件（最大6英吋）。電動X-Y台可自動分析多個樣品或一個樣品的多個位置。