CME-PL光致發光量子效率測量系統是一種緊湊，操作便捷，可在手套箱內完成搭建，無需將樣品取出 。該產品是一個系統解決方案，包括單色可調光源、光譜儀、積分球、光纖和計算機。 專用軟件使操作變得簡單。可用於容納液體樣品的薄膜，粉末和比色皿。系統適用有機金屬復合物、熒光探針、染料敏化型PV材料、OLED材料、LED熒光粉等領域。

主要特點:

l適用於粉體、固體、液體、薄膜樣品量子效率；

l光譜儀系統採用制冷型CCD信噪比高、雜散光低；

l激發光源採用光柵搭配濾光鏡分光，可任意選擇波長；

l體積小巧：便於靈活使用及運輸；

l堅固、緊湊的設計，可以***限度減少實驗室空間；

l專業軟件，操作簡單；

l光致發光量子效率、熒光材料發光發光測量（量子效率X吸收）、量子效率和激發波長的關係（-02G，-03G）、光致發光譜（峰值波長，FWHM）、光致發光激發譜（-02G,-03G）、色彩測定（色度、色溫、顯色指數等）。

技術參數