一、設備基本說明

X 射線熒光光譜(XRF)分析法是對各種各樣材料進行元素測定的一種現代化的通用分

析方法。根據不同的應用要求，其分析濃度範圍可從 1ppm 到 100%，而且即使高至 100%的

元素濃度也能直接進行測量而無須進行稀釋。XRF 分析法具有樣品制備簡單、測定元素范

圍廣、測定精度高、重現性好、測量速度快等特點 。

廣氾應用於環保、地質、礦物、冶金、水泥、玻璃、石化、陶瓷、有色金屬、藥物以及高

科技材料等領域，在產品研究開發、生產過程監控與質量管理等方面起着重要的作用。

二、X 射線熒光分析儀主機介紹

採用同時式波長色散型光譜儀；可裝載 10 個以上（含 10 個）分析通道用於多元素同

時測定，元素分析範圍為鈉到鈾，元素預設範圍為 9 大元素 Ca、Fe、Si、Al、Na、Mg、S、

K、Cl-，可選加其它元素。分析速度小於 5 分鐘。輸入電源為單相 220/240VAC，並由主機

向 PC 機和打印機供電。

三、設備各部分主要技術指標

1）分析元素種類：從 Na 到 U 的任意十種元素。

2）X 射線管：Varian 公司生在的 400W 薄鈹窗端窗 X 射線管，Rh 靶（Pd 靶可選）

3）X 射線管冷卻：專業的循環冷卻，無需冷卻水。

4） 高壓電源：400W ( 50kV8mA ) ，管壓管流 12 小時穩定度：優于 0.05 % 。

5）恆溫室溫度控制精度：設定值 36°C±0.1°C

6）探測器：流氣正比探測器十封閉正比探測器，

7）數據處理系統：9 路 2048 道獨立脈衝高度分析器。

8）真空系統：獨立泵站結構，易於維護，測量室最高真空度：低於 10Pa。

9）流氣系統：高精度流氣密度穩定裝置，壓力穩定度達到士 0.01kPa。

10）交流 220V 供電設備：2KVA 交流淨化穩壓電流。

11）分析精度： ( 24 小時，RSD）≤0.05 ％。

12) 單個樣品測量時間：（含換樣抽真空時間）≤2-5 分鐘

13）分析軟件：採用經驗係數法和理論ɑ係數法兩種定量分析方法，採用全譜檢測技

朮，實現了各道譜線的即時跟蹤和校正，從而大大提高了定量分析的重現性和長期穩

定性，同時也提供了診斷儀器工作狀態的直觀依據。 完善的自診斷措施。