產品特性：

手動翻蓋/雙扣/旋鈕能結構，根據不同芯片與測試環境選擇最佳的設計方案

採用進口探針，探針表面做鍍金處理，接觸性能穩定，高溫使用壽命3000H以上，高效率，低成本

高精密定位槽和導向孔，保証IC定位精準，測試效率高

滿足三溫：-55攝氏度/常溫/+150攝氏度，高低溫衝擊測試，間距最小可以做到pitch=0.25mm

滿足HAST，HTOL等各類burn-in老化測試，整套出貨交付更快更便捷