型號: | SP |
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品牌: | 美國 愛色麗 |
原產地: | 美國 |
類別: | 電子、電力 / 儀器、儀表 / 光學透鏡和儀器 |
標籤︰ | SP-60 , 美國愛色麗 , 美國色差儀 |
單價: |
¥45000
/ 件
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最少訂量: | 1 件 |
SP60
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測量光學系統
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d/8°(漫射照明/8°角測量);DRS光譜感應器;固定測量孔徑:8mm測量 / 12mm照明
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儀器台間差
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CIE L*a*b*:0.40ΔE*ab以內,測量12塊BCRAⅡ系列色板平均值(包含鏡面反射);最大0.60ΔE*ab測量任何色板(包含鏡面反射)
CMC相等值:0.3ΔE*ab以內,測量12塊BCRA系列色板平均值(包含鏡面反射);最大0.5ΔE*ab測量任何色板(包含鏡面反射) |
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短期重複性
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0.10ΔE*ab,測量白色標準板(標準誤差數)
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SP62
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測量光學系統
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d/8°(漫射照明/8°角測量);DRS光譜感應器;可選擇的測量孔徑:4mm測量 / 6.5mm照明;8mm測量 / 13mm照明;14mm測量 / 20mm照明
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儀器台間差
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CIE L*a*b*:0.20ΔE*ab以內,測量12塊BCRAⅡ系列色板平均值(包含鏡面反射);最大0.40ΔE*ab測量任何色板(包含鏡面反射)
CMC相等值:0.15ΔE*ab以內,測量12塊BCRA系列色板平均值(包含鏡面反射);最大0.3ΔE*ab測量任何色板(包含鏡面反射) |
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短期重複性
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0.05ΔE*ab,測量白色標準板(標準誤差數)
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SP64
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測量光學系統
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d/8°(漫射照明/8°角測量);DRS光譜感應器;可選擇的測量孔徑:4mm測量 / 6.5mm照明;8mm測量 / 13mm照明(4mm和8mm測量目標窗內置可轉)14mm測量 / 20mm照明
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儀器台間差
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CIE L*a*b*:0.20ΔE*ab以內,測量12塊BCRAⅡ系列色板平均值(包含鏡面反射);最大0.40ΔE*ab測量任何色板(包含鏡面反射)
CMC相等值:0.15ΔE*ab以內,測量12塊BCRA系列色板平均值(包含鏡面反射);最大0.3ΔE*ab測量任何色板(包含鏡面反射) |
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短期重複性
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0.05ΔE*ab,測量白色標準板(標準誤差數)
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聯繫人︰ | 馬朝臣 (經理) |
最後上線︰ | 2015/09/28 |