美國SCS Ionograph BT LP型動態桌上型大槽離子污染測試儀
Ionograph BT LP是Ionograph BT Series 離子污染測試系統三款桌上型中大測試槽（35.3 x 50.8 x 6.4 cm）的一款離子污染測試儀。可用於較大組件或超大樣品的測試。
離子污染：
離子污染的存在會對使用電子電路的設備的性能和使用壽命產業不利的影響。殘留的離子污染會導致絕緣表面的腐蝕和電流洩露。當在正常環境中暴露于濕度時，電路和組件劣化的速度顯著增加。
離子殘留物來自化學加工和電子製造過程中的各種來源。 典型污染源包括：
金屬清潔劑
化學蝕刻劑
電鍍化學品
助焊劑
加工設備
清洗線
環境（灰塵、二氧化碳）
汗液
特別是微電子污染，即使是人類噴嚏中的痕量離子殘留物也會導致災難性失敗。所以消除電子電路和組件上的離子殘留量可以使產品達到預期的性能和降低產品的可靠性風險。現在已經有很多關於離子污染的工業規範盒軍事規範被廣氾用於產品生產的質量控制。
Ionograph BT Series 離子污染測試系統可以簡單，準確的測量殘留的離子。對於裸板、組裝板、無源元件和微電子部件的殘留離子進行簡單準確的測量。適用於任何生產商或第三方檢測實驗室。
SCS Ionograph BT Series: LP (Large Parts)
測試槽尺寸(W x H x D)：35.3 x 50.8 x 6.4 釐米
測試液容量：15.0 升
尺寸(W x H x D)：38.7 x 68.6 x 41.3 釐米
重量：35.4 千克
電源：230 伏交流電, 50 赫茲, 0.5 安培
上海益朗儀器有限公司銷售美國SCS離子污染測試儀及相關配件耗材：
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