型號: | X-rite 369 |
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品牌: | X-rite |
原產地: | 美國 |
類別: | 電子、電力 / 絕緣材料 |
標籤︰ | - |
單價: |
¥36000
/ 件
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最少訂量: | 1 件 |
X-rite 369是一台性能卓越的透射式光密度儀,特別適用於測量重氮片。它在印刷電路 板(PCB)領域的質量控制測量中有廣氾應用。 校準后的X-rite 369將是你對重氮片進行 統計質量控制的最佳選擇。它可以為供應商和客戶節約材料,並幫您發現和解決生產中的問題。
技術規格:
1、測量直徑:1mm,2mm及3mm(0.5mm附加)
2、測量範圍:0~6.0D 0~100%(網點);
3、準確精度:
正色:2mm及3mm測量直徑,精準度為±0.02D(0~5.0D)
±1%(5.0~5.5D)
±2%(5.5~6.0D)
正色:1mm測量直徑,精準度為±0.02D(0~4.5D)
±1%(4.5~5.0D)
紫外線:3mm測量直徑,精準度為±0.02D(0~3.5D)
±1%(3.5~4.0D)
4、重覆精度:
正色:2mm及3mm測量直徑,重覆精度為±0.01D(0~5.0D)
±2%(5.0~5.5D)
±3%(5.5~6.0D)
正色:1mm測量直徑,精準度為±0.01D(0~4.5D)
±1%(4.5~5.0D)
紫外線:3mm測量直徑,精準度為±0.01D(0~3.5D)
±1%(3.5~4.0D)
深圳市銘科達威科技有限公司 | |
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國家/地區︰ | 广东省深圳市 |
經營性質︰ | 貿易商 |
聯繫電話︰ | 18902465210 |
聯繫人︰ | 李生 (經理) |
最後上線︰ | 2016/05/16 |