產品介紹

第三代3DFAMILY X射線熒光分析儀，採用世界上最先進的硅SIPIN探測器（分辨率為150ev），實現了無液態氮檢出器下高靈敏度的檢測功能。配備自動切換的濾光片及透射式X射線球管，最大程度地縮小了X射線源與被測物體的間距，從而在較低的電壓下達到同樣的激發效率，同時減少了漫射光的干擾，大大地提高了靈敏度和讀數的準確性，重複性。

性能特點

☆  高靈敏度---自動切換4種濾光片

在測定微量成分時，由於X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景，致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響，此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片，有效地降低了背景和散射X射線的干擾，調整出最具感度的輻射，進一步提高了S/N的比值，從而可以進行更高靈敏度的微量分析。

☆  自動定性分析

A， 自動過濾背景

X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景，軟件可自動過濾背景對分析結果的干擾，

從而能確保對任何塑料樣品的進行快速準確的分析。

B， 自動剝離重疊峰

當某些元素的電子由高等級向低等級越遷時釋放的能量相近，會使此時譜圖的波峰重疊在一起，由

此產生了重疊峰。SCIENSCOPE自行開發的軟件自動剝離重疊峰，確保了元素分析的正確性。

C， 自動補償逃逸峰

逃逸峰：由於採用的是Si針半導體探測器，因此當X射線熒光在通過探測器的時候，如果某種元素

的含量較高(能量也會相應的較高)，其被Si吸收的概率也就越大。此時，光譜圖中在該元素的能量

值減去Si能量值的地方回產生一個峰，此峰即為逃逸峰。

D， 自動追蹤譜圖漂移

 在電壓不穩的情況下，可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。

☆  定量分析

A，FP基礎參數法

B，標準法

C，1點校正

儀器參數

適用行業

塑料部件、金屬部件、電子元件中鉛、汞、鎘、總鉻、溴的篩選測試