X熒光能譜儀/Rohs檢測儀/鍍層/鍍膜測厚儀

X熒光能譜儀/Rohs檢測儀/鍍層/鍍膜測厚儀
型號:Quant'X
品牌:ThermoFisher(美國熱電)
原產地:美國
類別:化工 / 化學試驗器具和用品
標籤︰X熒光能譜 , Rohs檢 , 鍍膜測厚儀
單價: -
最少訂量:1 件

產品描述

美國賽黙飛世爾ThermoFisher(美國熱電)能量色散X-射線熒光光譜儀(ED-XRF)

技術參數

 

 

樣品室
樣品類型 固體、粉末、液體、濾渣、鍍層和其它
尺寸 30.5cm(w)x38.9cm(D)x6.6cm(H)
增高室(選購件): 21.5cm或37.1cm
單位盤 樣品可大至樣品室大小
10位盤(選購件) 帶自轉機構,樣品可大至47mm
20位盤(選購件) 樣品可大至31mm
自動和手動盤 為特種樣品專用的樣品盤,選購件
環境 空氣、真空(選購件)和充氦(選購件)

激發
X-光管 超高通量,端窗,RH靶,76um鈹窗,空氣冷卻,其它靶可選
X-光發生器 4-50KV,1KV間隔。O.02-2.OmA,0.02mA 間隔
濾光片 7種濾光片加1空位,自動選擇
准直器(選購件) 1.0、2.0、3.5、6.8和8.8 五種

檢測配置器
Si(Li)電致冷 Si(Li)面積15mm2,分辨率<155 eV
Si(Li)LN Si(Li)面積30mm2,分辨率<149 eV

數據採集
數字脈衝處理器 全部參數程序控制,自動能量校正
多道脈衝分析器 32位,4096道多道分析器
數據接口 計算機以太網接口

分析處理器和WinTrace
計算機/打印機 主流計算機和彩色打印機
顯示 X-射線能譜,重疊譜比較,峰鑑定標記,分析參數
輸出 監視器,圖形打印機和調製解調器
自動化 樣品室環境,X一射線源輸出,濾光片選擇,多次激發條件,
和樣品選擇
譜處理 自動元素鑑定,數字濾波本底扣除,最小二乘法經驗峰去卷積,
總峰強度,和淨峰強度
分析技術 經驗係數法和基本參數法,歸一化,校正曲線圖顯示
操作系統 微軟WindowsXP及更新的版本

尺寸和重量
外形尺寸 寬71.88cm,高41.15cm,深59.18cm
重量 90.7kg

使用要求
電源 100、115或230VAC,50或60hz,功率1000W,真空泵需2000W
電話 遙控診斷和遙控監測需要通過因特網連線

環境要求
溫度 O~32℃
濕度 20~80%RH(無冷凝水)

參考方法
ASTM方法
D5839-96(2001) X-熒光能譜法測定危險廢燃料中痕量元素的標準測試方法
D6052.97 X-熒光能譜法對液體危險廢料中元素分析的標準測試方法

 

主要特點

 

超大Si(Li) 晶體,具有極高的痕量分析的靈敏度,打破lng的檢測限壁壘
全數字脈衝處理器技術,死時間達60%, 以及優異的峰背比
高級FP無標樣分析軟件,進行無標樣分析,減少對標樣的依賴性
高靈敏電制冷Si(Li) 探測器技術, 儀器免維護和零費用運行
超大樣品室,可容納300mm400mm的樣品
全自動校準,自動監測,自動報警系統,完全計算機控制
鍍層和薄膜測量技術, 具有無標樣分析測厚技術
ARL QUANT'X 應用

氣溶膠顆粒濾膜
應對RoHS & WEEE 指令分析
刑偵以及痕量分析
營養添加劑
磁性磁性介質、半導體器件、PCB板等鍍層鍍膜(疊層)測厚及材料分析
高性能,操作簡便WinTrace軟件

直觀
功能強大
安全
操作靈活,方便用戶

 

【應 用】

【樣品盤選件】

X熒光能譜儀/Rohs檢測儀/鍍層/鍍膜測厚儀 1X熒光能譜儀/Rohs檢測儀/鍍層/鍍膜測厚儀 2

會員信息

現代材料與化工分析
國家/地區︰北京市北京市区
經營性質︰服務或其他
聯繫電話︰01088360212
聯繫人︰周經理 (市場營銷)
最後上線︰2009/01/08